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全波段测试技术:光开关性能优化的核心解决方案

2025-06-20

——广西科毅光通信助力光器件高效测试


一、行业背景与技术挑战

随着5G、云计算、4K/8K视频传输需求的爆发式增长,城域网与接入网面临前所未有的带宽压力。作为国内领先的光开关生产商,广西科毅光通信科技有限公司(www.coreray.cn)观察到:新型光纤已支持全波段传输(O/E/S/C/L/U波段),但光器件测试技术却滞后于产业发展。

核心痛点:

1. 传统测试效率低下:器件产量激增,离散波长测试法耗时严重(如8通道CWDM器件插损测试需10分钟)

2. 波段覆盖不足:商用光谱仪(OSA)难以覆盖1260-1630nm全波段,尤其O波段测试设备稀缺

3. 参数完整性缺失:偏振相关损耗(PDL)多限于单点测试,全波段PDL数据匮乏

典型案例:PON网络中1dB损耗偏差将导致传输距离缩短2.8km(1310nm波段光纤损耗0.35dB/km),直接影响运营商基建收益。




二、全波段测试法的技术突破

广西科毅光通信联合产业伙伴,推出基于宽谱可调谐激光器+偏振控制的测试方案,实现光开关等器件的全波段高效测试

三大传统方法对比

测试方法

波段覆盖

PDL测试

32端口测试耗时

适用场景

离散多波长法

点状覆盖

不支持

>30分钟

研发验证

宽谱光源+光谱仪

局部波段

需外接

>60分钟

低通量生产

单激光器波长扫描法

≤150nm

支持

10分钟

DWDM器件

科毅全波段方案

1260-1630nm

支持

<1分钟

FTTx/CWDM量产

核心技术亮点

1. 400nm超宽扫描范围

·         覆盖O至U全通信波段(1260-1630nm)

·         支持SFP光模块、WDM滤波器的全谱响应分析

2. 多参数同步测试

·         单次扫描完成IL(插损)、ORL(回损)、PDL(偏振损耗)测量

·         采用Mueller矩阵法保证PDL测试精度

3. 量产级测试速度

·         8通道CWDM器件:10秒完成IL测试

·         32端口光分路器:1分钟内完成IL+PDL测试

图1 科毅全波段测试仪实测数据
[
此处插入优化后的测试曲线图,突出1260-1630nm连续波段下的IL/PDL一致性]




三、光开关测试的关键应用场景

1. PON网络优化

  • 测试标准:满足ITU-T G.983双波段要求(1260-1360nm & 1480-1580nm)

  • 器件类型:Triplexer三工器件、1×N光分路器(N=4/8/16/32)

  • 测试重点:通带隔离度(WDM滤波器)、分光比波段一致性(Splitter)

2. CWDM系统升级

  • 16波系统测试:需覆盖1260-1620nm波段

  • 隔离度挑战:相邻信道隔离需达45-55dB

  • 科毅方案价值:支持1271-1451nm扩展波段测试,助力4波→8波→16波平滑升级

3. 未来兼容性设计

  • DWDM-PON融合:通过全波段测试数据预判器件在Dense WDM环境下的性能

  • U波段(1625-1675nm)预留:满足未来监控信道扩展需求




四、广西科毅全波段测试方案优势

作为光通信核心器件供应商,我们提供:

1. **全波段覆盖**:1260-1630nm连续扫描,支持O/E/S/C/L/U波段 

2. **多端口并行**:32通道同步测试,集成偏振分集接收探测器 

3. **量产级效率**:测试速度提升60倍,降低单件测试成本40%+ 

4. **标准化输出**:符合IEC/ITU最新草案(如G.metro ) 

 

五、技术演进与标准动态

广西科毅光通信积极参与国际标准建设:

  • IEC 61300-3系列:推动宽波段IL/PDL测试方法标准化

  • ITU G.sup.66 :制定CWDM+PON混合架构测试规范

  • 企业实测数据库:积累超10万组全波段器件数据,反哺产品设计

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结语

全波段测试不仅是光器件性能的“体检仪”,更是网络未来验证的基石。广西科毅光通信科技有限公司持续投入研发,推动测试技术从离散点向连续谱演进,为5G前传、数据中心互联提供高可靠性光开关解决方案


官网首发www.coreray.cn